VM4600M 三目正置大平台金相显微镜配有大范围移动的载物台、柯拉落射照明系统、长距平场物镜、大视野目镜，图像清晰、衬度好，同时配有偏光装置，可实现偏光观察。适用于薄片试样的金相、矿相、岩相、晶体等结构分析和鉴别，电子芯片的检查或用于观察材料表面特性，如：划痕、裂纹、喷涂的均匀性等及纺织纤维、化学颗粒的分析研究。是生物学、金属学、矿物学、精密工程学、电子学等研究的理想仪器。VM4600M可放大50-800倍。
VM4600M 主要性能特点：
系统配置了大尺寸、大范围移动载物台，适合大工件的检查
两路光路自由切换输出，一路用于观察，一路连接摄像装置，并配有偏光装置
