公司简介:
aep Technology**材料表面形貌测试测量未来。长期致力于材料表面形貌及外形轮廓的测试研究，先进的三维成像技术更带您进入材料表面的三维图像**，观察表面的每一个细节， 生成精密的图像数据，揭示材料表面的真实形貌。结合精密的分析测试软件，为您进行的**研究提供援助，协助您创造更多的价值。
产品介绍：
NanoMap系列产品可广泛的应用于材料科学、薄膜涂层、生物、化工、石油、微电子、微型传感器、半导体材料、自动控制、航空航天、汽车工业及机械工具的材料研究和开发。NanoMap - D产品兼备接触式（探针扫描轮廓仪）及非接触式（白光干涉轮廓仪）的优点于一身的三维表面形貌测量设备。适用全材料体系测量，几乎可以接纳任何材料表面，包括水、油到碳。
应用：
三维表面轮廓测量和粗糙度测量， 即适用于精密抛光的光学表面也可适用于质地粗糙的机加工零件。
薄膜和厚膜的台阶高度测量。
划痕形貌， 磨损深度、宽度和体积定量测量。
空间分析和表面纹理表征。
平面度和曲率测量。
二维薄膜应力测量。
微电子表面分析和 M E M S 表征。
表面质量和缺陷检测。
环境要求：
湿度： 10 - 80% ，相对湿度，无冷凝
温度： 65 - 85华氏度（△ T ＜ 1 度/ 小时）
电源要求： 110 / 240 V ，50 / 60 Hz
高清图像
2维、3维的直方图等视图
白光干涉可以呈现2维和3维图像。利用所提供的软件，通过设置一些选项、可以得到客户需求的的曲线、标绘、视图（例如直方图及雷达图等）
