分光式、底部测量口
可靠的精度、优良的再现性
使用10nm波长间隔测量360nm~740nm全范围波长。采用双波束方式、双通道传感阵列实现高精度和高再现性。
致力于免维修化的高可靠性设计
通过技术革新实现SCI/SCE之间的切换，并将滤光器等部件的移动减***小。在设计和产品校准中引入了ISO9001认证质量管理体系，使产品具有高可靠性和耐用性。
具有3种测量口径
可根据样品尺寸选择***适当的测量口径。
主要用途
· 各行业的研发和质量管理部门
· 大学、实验室、检查机构
主要特点
可同时测量SCI和SCE
通过特殊的数字化光泽控制方式同时测量SCI和SCE，仅需4秒即可连续测量。与传统机型不同的是，无需在SCI和SCE模式之间进行频繁的机械切换，这样就提高了工作效率。由于在切换模式时测量区域不会变化，因此可提供稳定的测量数据。
