CX40-M金相显微镜提供优越的图像质量和稳固可靠的机械结构；操作简便，附件齐全，广泛应用于教学科研金相分析、半导体硅晶片检测、地址矿物分析、精密工程测量等领域
特点
CX40-M光学系统：无限远色差校正光学系统（CSIS），像质更好，分辨率更高，观察更舒适
CX40-M目镜及物镜：高眼点、超宽视野平场目镜，PL10x/22mm，提供更加宽阔平坦的观察空间并可加装用于测量的各类测微尺，无限远平场消色差超长工作距专业金相物镜，无盖玻片设计
CX40-M观察筒：铰链式双目/三目/数码一体化观察筒，视度可调节，30°倾斜，可进行摄影摄像，对观察图像进行采集和保存，配置电脑和专业软件实现图像分析
CX40-M调焦机构：低手位粗微调同轴调焦机构，粗调行程28mm，微调精度0.002mm，带有平台位置上下调节机构，样品高度可达50mm（反射）、30mm（透反射），带有粗调松紧调节装置和随机限位装置
CX40-M照明系统：反射照明器带斜照明装置，可以再观察细微组织结构时产生浮雕立体的特殊观察效果，自适应90V-240V宽电压，单颗3WLED高亮度冷光源。
欧米特OMT-3RT技术规格：(以下参数根据客户实际需求配置)
光学系统
无限远色差校正光学系统
观察筒
铰链式双目头，30°倾斜，可360o旋转，瞳距调节范围：54-75mm，单边视度调节±5
铰链式三目头，分光比：双目**，双目:三目=50%:50%
目镜
高眼点大视野平场目镜PL10X22mm
高眼点大视野平场目镜PL15X/16mm
物镜
无限远长工作距平场消色差金相物镜：LMPL5X /0.15 /WD10.8
无限远长工作距平场消色差金相物镜：LMPL10X/0.3 /WD10
无限远长工作距平场消色差金相物镜：LMPL20X/0.45 /WD4
无限远长工作距平场半复消金相物镜：LMPLFL50X/0.55 /WD7.8
无限远长工作距平场消色差金相物镜：LMPLFL100X/0.80 /WD2.1
转换器
5孔内倾式转换器
调焦机构
反射式机架,低手位粗微同轴调焦机构。粗调行程28mm,带平台位置上下调节机构,大样品高度50mm,微调精度0.002mm.带有防止下滑的调节松紧装置和随机上限位装置
透反两用机架,低手位粗微同轴调焦机构。粗调行程28mm,带平台位置上下调节机构,大样品高度30mm,微调精度0.002mm.带有防止下滑的调节松紧装置和随机上限位装置.带12V 50W透射光照明系统.上下光可独立控制.
载物台
175×145mm双层复合机械平台,可拆卸;平台经过特殊工艺处理,防腐耐磨.，移动范围76mmX50mm，配反射用金属载物台板
175×145mm双层复合机械平台,可拆卸;平台经过特殊工艺处理,防腐耐磨.，移动范围76mmX50mm，配透、反两用玻璃载物台板
反射照明系统
反射照明器,柯拉照明系统,带视场光阑与孔径光阑,中心可调;带斜照明装，自适应90V-240V宽电压输入，单颗大功率3W LED，预定中心，亮度连续可调
透射照明系统
90-240V宽电压,12V50W卤素灯箱,灯丝中心可调，摇出式消色差聚光镜(N.A 0.7)
偏光装置
起偏镜
固定式检偏镜/可360度旋转式检偏镜
滤色片
反射用干涉滤光片：蓝色≤480/绿色520-570/红色630-750/色平衡片(白光)
透射用：黄/绿/蓝/中性
摄影装置
摄影接筒（带PK卡口），3.2X摄影目镜
摄像装置
0.35X/0.5X/1.0X C型摄像接筒
