精微高博比表面积测定仪测定仪器(JW)
  • 精微高博比表面积测定仪测定仪器(JW)

比表面积测定仪测定仪器(JW)

  • 品牌: 精微高博
  • 型号:
  • 监管:
  • 尊敬的供应商:如果您对展示该产品有异议,请至电:021-50308503我们将在第一时间处理!
    产品名称:比表面积测定仪测定仪器(JW)
    结构组成
    适用范围
    温馨提示
    1.比表面积测定仪测定仪器(JW)可能含有禁忌内容或者注意事项,具体详见说明书;
    2.购买比表面积测定仪测定仪器(JW),消费者应仔细阅读产品说明书或者在医务人员的指导下购买和使用。
      编辑日期:2026-03-30

    比表面及介孔分布测定仪产品特点:

    1.自主知识产权,比表面及介孔分布测定仪器功能与性能达到国际水平,可以代替进口;

    2.比表面及介孔分布测定仪自动化程度很高,可以做到完全无人值守;

    3.独特的真空及气路设计,采用了独有的内置式微型调节阀;

    4.可靠的无泄漏(10-9cc/sec)无污染的真空系统;

    5.**稳定性的高灵敏压力传感器(0.25%);

    6.相对压力-平衡时间的全自动控制及平衡技术;

    7.氮吸附、氮脱附压力及平衡时间可以自由设置,做到*佳选择;

    8.软件功能齐全,在计算机屏幕上实时显示测试比表面积及孔径分布的实验过程,比表面积及孔径分布试验结果同步得出;

    9.可以单从吸附曲线得出BJH孔径分布,测试比表面积及孔径分布的时间可以节省一半;

    10.只用高纯氮气,不用氦气;

    11.高质量液氮杜瓦瓶及密封装置,大大降低了液氮的消耗;

    12.与国外进口比表面及介孔分布测定仪器相比,具有*大的性价比;

    13.国产比表面及介孔分布测定仪器维修及售后服务及其方便。

    比表面及介孔分布测定仪的特性如下:

    比表面及介孔分布测定仪的主要功能:可实行BET比表面积(多点及单点)测试,Langmuir比表面积测试,炭黑外比表面积测定,吸附、脱附等

    温曲线测定, BJH孔径分布、总孔体积和平均孔径测定;

    真空系统:极限真空度6×10-2Pa

    测量范围:比表面积 ≥0.01M2/g **无规定上限,孔尺寸 0.35~ 400nm ;

    样品数量:可同时测定1-4个样品;

    测量精度:≤± 2% ;

    比表面及介孔分布测定仪的压力控制:高精度压力传感器,数字显示,精度 0.2%,独特的充气与抽气速度自动控制系统

    比表面及介孔分布测定仪的运行方式:高度自动化,智能化,长时间运行可以无人看管自行测试

    比表面及介孔分布测定仪的测试时间:多点BET法比表面积平均每个样品15分钟,孔径分布测试、孔隙度测试平均每个样品100分钟

    测试气体:高纯氮气(不用氦气),氮气消耗量极小

    吸附过程:样品不需要频繁从液氮杜瓦瓶中进出,液氮消耗极少

    比表面及介孔分布测定仪的软件系统:在Windows平台上,提供过程控制和数据采集、处理、报告系统,多种测试方法可自由方便选择,在计算

    机屏幕上,同步显示吸、脱附,比表面积及比表面及介孔分布测定仪测试过程、可随时查看已完成部分的测试数据;本机软件功能强大、界面

    友好、兼容性高、使用方便;

    比表面及介孔分布测定仪的应用领域: 催化剂,广泛用于石化、化工、医药、食品、农业、精细化工等领域;吸附剂,如活性炭、分子筛、活性氧化铝等,广泛用于环保领域;颜填料,无机颜料、碳酸钙、氧化锌、氧化硅、矿物粉等;陶瓷材料原料,氧化铝、氧化锆、氧化釔、氮化硅、碳化硅等;炭黑、白炭黑、纳米碳酸钙等用于橡塑材料的补强剂等;新型电池材料,如钴酸锂、锰酸锂、石墨等电极材料;发光稀土粉末材料; 磁性粉末材料,如四氧化三铁、铁氧体等;纳米粉体材料,包括纳米陶瓷材料、纳米金属材料,纳米银粉、铁粉、铜粉、钨粉、镍粉等;其他,如超细纤维、多孔织物、复合材料、沉积物、悬浮物等;


    注册证号
    没有资料
    招标产品 品牌/型号 招标单位 中标单位 中标价格中标日期
    *比表面积测定仪测定仪器(JW)中标信息来源于互联网,仅供参考!
    比表面积测定仪测定仪器(JW)说明书 正在维护中,如有需求请致电:021-50308503
同品牌产品
产品知识
我要咨询
×