性能和特点:
当代新型陶瓷、金属粉末与复合材料领域的不断发展,要求精确地掌握材料的热膨胀和烧结特性。对于各类反应与相转变的研究,经常要求在极端的测试条件,如一两千度的高温下进行。NETZSCH 公司提供的热膨胀仪 DIL 402 C,能够进行灵活多样的配置,以满足对于测量系统的各类要求。
DIL 402 C 的测量系统使用膨胀系数极低的 Invar 合金,配备了高灵敏度位移传感器、完善的温度控制体系,使得这款仪器的测试精确度高、重现性好、同时在 2000℃ 的极高测试温度下依然保持良好的稳定性。
仪器采用卧式设计,这种设计的优点在于炉子容易操作,装载样品简便。即使非理想尺寸的样品都可以很轻松的放进管状样品支架的凹槽中。热电偶直接接近样品测温,保证温度测量的重复性。同时该仪器的 c-DTA 功能使得仪器在测试热膨胀系数的同时还能测得样品的吸放热效应。仪器为真空密闭结构,可使测量在真空或设定的纯净惰性气氛下进行。
仪器的炉体可以自行更换,可选温度范围 -180℃～2000℃内的多种炉体,并提供多种材料与规格的样品支架与样品容器,其应用领域覆盖了几乎所有的新材料研发和基础研究、产品质量控制等需要高精度测量热膨胀的领域,测量的样品形态包括固体、液体、粉末、膏体、陶瓷纤维等等。
1.DIL提供多种类型的样品支架与炉体配置。
2.提供各种配件使测试更灵活方便。
3.提供速率控制烧结软件(RCS)。
4.提供 c-DTA 功能,可通过图谱分析计算得到差热DTA曲线。
技术参数:
可自由更换如下四种炉体:低温炉(-180 ... 500℃)、中高温炉(RT ... 1500℃)、高温炉(RT ... 1600℃)、超高温炉(RT ... 2000)。
升降温速率:0 ... 50 K/min(取决于不同的炉体类型)
样品支架:石英支架(< 1100°C),氧化铝支架(< 1700℃),石墨支架(2000℃)
测量范围:500/5000 μm
样品长度:*大 50 mm
样品直径:*大 12 mm(另有 19 mm 可选)
ΔL 分辨率:0.125 nm / 1.25 nm
气氛:惰性、氧化、还原、静态、动态
气体流量计和气体阀(可选)
c-DTA(计算型 DTA):可在热膨胀测试的同时得到 DTA 曲线,并可用于温度校正。(选件)
高真空密闭,*高真空度 10-4mbar(10-2 Pa)
可与 QMS 403 C Aёolos联用,只需在炉子出口处使用可加热的适配器连接即可。
