性能特点如下:XPF400C型透射偏光熔点测定仪是地质、矿产、冶金、石油化工、化 学纤维、半导体工业以及药品检验等部门和相关高等院校的高分子...等专业*常用的专业实验仪器。可供广大用户作单偏光观察,正交偏光观察,锥光观察以及显微摄影,来观察物体在加热状态下的形变、色变及物体的三态转化。
本系统广泛应用于高分子材料、聚合物材料等化工领域,适用于研究物体的结晶相态分析、共混相态分布、粒子分散性及尺寸测量、结晶动力学的过程记录分析、液晶分析、织态结构分析、熔解状态记录观察分析等总多研究方向。
偏光显微熔点测定仪XPF400C系统汇集了光电、模式识别、精密加工、图象学、自动控制、模量学等总多研究领域的当前**技术,多年研究开发的结果,在国内享有****.本仪器的具有可扩展性,可以接计算机和数码相机。对图片进行保存、编辑和打印。
系统数字性
XPF400C型偏光熔点仪系统是将精锐的光学显微镜技术、先进的光电转换技术、**的计算机成像技术和精密的温控技术**地结合在一起而开发研制成功的一项高科技产品。可以在计算机上很方便地观察不同温度下的偏光效果图像,并对偏光图谱进行分析,处理,还可输出或打印偏光图片。
主要参数:
1.显微镜技术参数:
名称 | 规格 |
总放大倍数: | 40X---630X |
无应力消色差物镜 | 4X/0.1 |
10X/0.25 |
25X/0.40 |
40X/0.65 弹簧 |
63X/0.85 弹簧 |
目镜 | 10X 十字目镜 |
10X 分划目镜 |
试片 | 石膏 1λ 试片 |
云母 1/4λ 试片 |
石英楔子试片 |
测微尺 | 0.01mm |
滤色片 | 蓝色 |
带座目镜网络尺 | ? |
移动尺 | 移动范围 30mm×40mm |
镜筒 | 三目观察 |
2.熔点仪技术参数:
热台组成 | 性能 |
显微精密控温仪 | 在 20倍物镜下工作温度可达到*高300 ℃ 、温度运行程序全自动控制;温度程序段由用户自行设定, 30段温度编程,循环操作,能准确反映设定温度、炉芯温度、样品的实际温度。每段设定起始温度,及在该段内可维持时间,升温速率可调、精度 ± 0.3 ℃、记忆点读数 |
显微加热平台 | 可以随载物台移动、工作区加热面积大、透光区域可调、工作区温度梯度低于± 0.1*起始温度室温*工作区加热使用面积**少 1X1厘米*工作区温度梯度不超过 ± 0.1*透光区域 2mm以上,可调*显示温度与实际温度误差不超过 ± 0.2*热台可以随载物台移动在加热状态下*高可使用 20倍物镜 |
| 注意:熔点测定(温度超过100度时,25X的物镜工作距离太近,容易损坏镜头,请选用长工作距离的物镜25X、40X的物镜) |
系统组成:1、偏光显微镜 2、适配镜 3、摄像器(CCD) 4、采集卡 5、计算机(选配)
选配件:1、150万像素成像器
2、偏光显微镜分析软件
3、100X无应力消色差物镜(带浸油1瓶)
