天瑞仪器X荧光测厚光谱仪 Thick 800AThick 800A
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X荧光测厚光谱仪 Thick 800A

  • 品牌: 天瑞仪器
  • 型号:Thick 800A
  • 监管:
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    产品名称:X荧光测厚光谱仪 Thick 800A
    结构组成
    适用范围
    温馨提示
    1.X荧光测厚光谱仪 Thick 800A可能含有禁忌内容或者注意事项,具体详见说明书;
    2.购买X荧光测厚光谱仪 Thick 800A,消费者应仔细阅读产品说明书或者在医务人员的指导下购买和使用。
      编辑日期:2026-03-30

      性能和特点:满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
      φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
      高精度移动平台可精确定位测试点,重复定位精度小于0.005mm
      采用高度定位激光,可自动定位测试高度
      定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐
      鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点
      高分辨率探头使分析结果更加精准
      良好的射线屏蔽作用
      测试口高度敏感性传感器保护


      技术参数:型号:Thick 800A
      元素分析范围从硫(S)到铀(U)。 
      一次可同时分析*多24个元素,五层镀层。
      分析检出限可达2ppm,*薄可测试0.005μm。
      分析含量一般为2ppm到99.9% 。
      镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)
      任意多个可选择的分析和识别模型。
      相互独立的基体效应校正模型。
      多变量非线性回收程序
      多次测量重复性可达0.1%
      长期工作稳定性可达0.1%
      度适应范围为15℃**30℃。
      电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。 
      仪器尺寸:576(W) x 495 (D) x 545(H) mm
      重量:90 kg


      标准配置

      开放式样品腔。
      精密二维移动样品平台,探测器和X光管上下可动,实现三维移动。
      双激光定位装置。
      铅玻璃屏蔽罩。 
      Si-Pin探测器。
      信号检测电子电路。
      高低压电源。
      X光管。
      高度传感器
      保护传感器
      计算机及喷墨打印机

      应用领域
      黄金,铂,银等贵金属和各种**饰的含量检测.
      金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。
      主要用于贵金属加工和**饰加工行业;银行,**饰销售和检测机构;电镀行业。


    注册证号
    没有资料
    招标产品 品牌/型号 招标单位 中标单位 中标价格中标日期
    *X荧光测厚光谱仪 Thick 800A中标信息来源于互联网,仅供参考!
    X荧光测厚光谱仪 Thick 800A说明书 正在维护中,如有需求请致电:021-50308503
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