8XB-PC正置(明暗场)芯片检查显微镜
产品用途
正置(明暗场)芯片检查显微镜广泛的应用于透明，半透明或不透明物质，比如金属陶瓷、电子芯片、印刷电路、LCD基板、薄膜、纤维、颗粒状物体、镀层等材料表面的结构、痕迹，都能有很好的成像效果。
产品特点
采用了UIS高分辨率、长工作距离无限光路校正系统的物镜成像技术。
拓展了物镜的复用技术，无限远物镜与所有观察法相兼容包括明暗视野法、偏光法，并在每一观察法中均提供高清晰的图像质量。
采用非球面Kohler照明，增加观察亮度。
WF10X（Φ25）超大视野目镜，长工作距离明暗场金相物镜。
显微镜技术规格
1.镜筒：30°倾斜
2.高眼点目镜：WF10X/Φ25mm
3.无限远长工作距离明暗场物镜：5×/0.1B.D/W.D.29.4mm
10×/0.25B.D/W.D.16mm
20×/0.40B.D/W.D.10.6mm
40×/0.60B.D/W.D.5.4mm（选购）
50×/0.55B.D/W.D.5.1mm
100×（干）/0.80B.D/W.D.3mm（选购）
4.转换器：五孔
5.工作台尺寸：311mm*352mm，移动范围：250mm×250mm
6.调焦：粗微动同轴，范围36mm，微动0.002mm
7.光源：垂直照明，带孔径光栏和视场光栏，卤素灯12V/100W，AC85V-230V亮度可调节
8.DIC装置：偏光装置、明暗场转换
