主要特点：
1.具有超高分辨率 ：1.0nm/15kV，1.6nm/1kV(减速模式)。
2.Super E x B技术用于控制SE/BSE信号检测，实现**放电现象及信号混合。
3.具有“Semi-in-lens”和“out-lens”两种物镜模式，可实现高分辨和磁性样品两种观察模式。
应用领域：
1.纳米材料
2.金属
3.半导体器件
4.EBSP分析
