产品简介：
本款微分干涉显微镜55XA采用优质的无限远光路系统，配置了DIC微分干涉装置，落射照明装置、透射照明装置和偏光装置，可用于微分干涉观察和透反射观察。微分干涉相衬观察时图像清晰，干涉色均匀，具有较强的浮雕感。主要用于检测COG导电粒子，同时也可用于半导体硅晶片、LCD基板、FPD电路板、太阳能电池片的检测。总放大倍数：50-800X 性能特点： 1、采用当今*为先进的无限远光路设计。 2、配置落射DIC观察系统与透射照明系统。 3、微分干涉相衬观察时图像清晰，干涉色均匀，具有较强的浮雕感。 4、配置了无限远长距平场消色差物镜、大视野目镜和偏光观察装置。视场清晰平坦。 5、三目镜筒可自由切换目视观察与显微摄影，摄影时可**通光，适合低照度显微图像拍摄。 6、上光源采用翻盖式12V50W卤素灯箱，下光源采用12V30W卤素灯，内置式可切换偏光观察装置，起偏器可360°旋转。
