日本电子株式会社(JEOL)推出了一款特殊设计的产品即JEM-2800 场发射透射电子显微镜，在兼顾高分辨高稳定性的同时，*求分析效率的*大化和操作的自动化。
技术参数：
1. 点分辨率：0.21nm；
2. 晶格分辨率：0.1nm;
3. STEM 分辨率：0.16nm；
4. 二次电子分辨率：0.5nm；
5放大倍数：高达2,000,000
6. 能谱：可以安装两个超级能谱
7. 洛伦兹模式：标配
