测定原理 X射线荧光分析法
测定方法 能量色散型
测定对象 固体、液体、粉体
样品形状 *大150mm× 150mm× 40mmH
X射线管 Rh靶
检测器 Si(Li)半导体检测器(μEDX-1200/1300型) Si漂移半导体检测器(μEDX-1400型)