仪器简介：
EDX-LE是一款专用于RoHS/ELV/法规限制的有害元素筛选分析的X射线荧光分析装置。 配备无需液氮型电子制冷（Si-PIN检测器）检测器，因此在实现降低运作成本和更易维护的同时，以维持高可信性分析和进一步提高操作性达到自动化分析为目标。 根据不同样品从开始测试到得到结果所需测试时间基本上可在1分钟内完成，所以完全可以应对RoHS法规中所限制的有害元素的筛选分析。另外，*近几年在众多企业中实施的自行检测有害元素Cl的检测分析，该款装置也可以通过筛选分析简单的检测出来。同时推荐该装置作为中国版RoHS第二阶段应对手段。
技术参数：
主要规格
测定原理X射线荧光分析法
测定方法以能量色散型
测定对象固体、液体、粉状
测定范围13Ai～92U
样品室尺寸*大W370mm*D320mm*H155mm
X射线发生部
X射线管Rh靶
电压550KV
电流1-1000uA
冷却方式风冷（附风扇）
照射面积3、5、10mmю；自动交换
1次滤光片5种+OPEN自动交换
检测器
类型Si-PIN半导体检测器
制冷方式电子制冷
计数方式数字滤光片计数处理
样品室
测定环境大气
样品观察半导体照相机
数据处理部
主机IBM PC/AT互换机
内存512MB以上
HDD40GB以上
分辨率1024*768点以上
打印机彩色喷墨打印机
CDCD-ROM驱动
OSWindowsVista
软件
筛选分析简单操作软件
定性分析测定●解析软件
定量分析工作曲线
应用性自动校正功能（能量校正、半峰宽校正）
其他装置状态监视楞能
分析结果建表功能
分析结果报告书创建功能
环境设置
性能保证范围
温度条件10℃～30℃（温度变化在2℃以内）
湿度条件40%～70%（不结露）
电源AV100v～240v±，2A，带地线插座
外围设备（打印机、PC、显示器等）的电源需要另行配备
主要特点：
深入浅出
●利用【筛选分析】画面，操作简单方便
●从主成分判定到条件选择全部实现自动处理
装备所有**要功能
●标准装备了Rosh/ELV分析所需的**要功能
●拥有大容量样品室，因此可以直接测定大型样品
使Rosh/ELV的筛选更简单
●日常维护量减少（无需液氮）
●配备保护功能，限制条件或数据的变更
●配备筛选轻松设定功能，能够根据管理方法轻松自定义
