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陆斯 湿法激光粒度分析仪 Rise-2008 Rise-2008
Rise-2008型湿法激光粒度分析仪技术指标:1、测量范围:0.02~1200微米2、准确性误差:〈±1%(国家标准物质D50)3、重复性偏差:〈±1%(国家标准物质D50)4、电气要求…
03-30
物光 激光粒度分析仪 WJL-602 WJL-602
性能和特点:光在传播中,波前受到与波长尺度相当的隙孔或颗粒的限制,以受限波前处各元波为源的发射在空间干涉而产生衍射和散射,衍射和散射的光能…
03-30
物光 激光粒度仪 WJL-612 WJL-612
性能和特点:工作原理:采用全量程米氏散射理论,充分考虑到被测颗粒和分散介质的折射率等光学性质,根据大小不同的颗粒在各角度上散射光强的变化反…
03-30
物光 激光粒度仪 WJL-622 WJL-622
性能和特点:工作原理:采用全量程米氏散射理论,充分考虑到被测颗粒和分散介质的折射率等光学性质,根据大小不同的颗粒在各角度上散射光强的变化反…
03-30
物光 激光粒度分析仪 WJL-606 WJL-606
性能和特点:光在传播中,波前受到与波长尺度相当的隙孔或颗粒的限制,以受限波前处各元波为源的发射在空间干涉而产生衍射和散射,衍射和散射的光能…
03-30
物光 激光粒度仪 WJL-616 WJL-616
性能和特点:工作原理:采用全量程米氏散射理论,充分考虑到被测颗粒和分散介质的折射率等光学性质,根据大小不同的颗粒在各角度上散射光强的变化反…
03-30
物光 激光粒度仪 WJL-626 WJL-626
性能和特点:工作原理:采用全量程米氏散射理论,充分考虑到被测颗粒和分散介质的折射率等光学性质,根据大小不同的颗粒在各角度上散射光强的变化反…
03-30
物光 激光粒度分析仪 WJL-608 WJL-608
性能和特点:光在传播中,波前受到与波长尺度相当的隙孔或颗粒的限制,以受限波前处各元波为源的发射在空间干涉而产生衍射和散射,衍射和散射的光能…
03-30
物光 激光粒度仪 WJL-628 WJL-628
性能和特点:工作原理:采用全量程米氏散射理论,充分考虑到被测颗粒和分散介质的折射率等光学性质,根据大小不同的颗粒在各角度上散射光强的变化反…
03-30
彼爱姆 彼爱姆 UIS落射荧光显微镜 BM-20AY BM-20AY
三目,无限远系统,40-1600倍,G、B 激发组可选配CMOS成像系统或9.7吋平板电脑
03-30
彼爱姆 彼爱姆 UIS落射荧光显微镜 BM-21AY BM-21AY
三目,无限远系统,40-400倍,激发波段 U(紫外)330-380nm、V(紫)380-420nm、BV(紫蓝)400-440nm、B(蓝)450-490nm、G(绿)510-560nm可选配CMOS成像系统或9.7吋平板电脑
03-30
彼爱姆 彼爱姆 UIS落射荧光显微镜 BM-22AY BM-22AY
三目,无限远系统,40-1600倍,激发波段 UV(紫外)320-380nm、V(紫)380-415nm、B(蓝)450-490nm、G(绿)495-555nm,汞灯100W光源
03-30
彼爱姆 彼爱姆 UIS落射荧光显微镜 BM-22BY BM-22BY
三目,无限远系统,40-1600倍,激发波段 UV(紫外)320-380nm、V(紫)380-415nm、B(蓝)410-490nm、G(绿)475-555nm,3W高亮LED光源
03-30
彼爱姆 彼爱姆 UIS落射荧光显微镜 BM-20Y BM-20Y
双目,无限远系统,40-1600倍,G、B 激发组
03-30
彼爱姆 彼爱姆 UIS落射荧光显微镜 BM-19AY BM-19AY
三目无限远,40-1000倍,U、V、B、G 激发组
03-30
彼爱姆 彼爱姆 落射荧光显微镜 XSP-BM-13C XSP-BM-13C
三目无限远,40-1000倍,落射荧光,B、G激发组可选配CMOS成像系统或9.7吋平板电脑
03-30
彼爱姆 彼爱姆 明、暗视野显微镜 BM-20ADF/无限远 BM-20ADF/无限远
暗场法:观察线状颗粒、不染色活体标本轮廓像可选配CMOS成像系统或9.7吋平板电脑
03-30
彼爱姆 彼爱姆 透反射显微镜 BM-12 BM-12
三目,4个物镜,40-1600倍,透反射照明,6V/20W卤素灯可选配CMOS成像系统或9.7吋平板电脑
03-30
彼爱姆 彼爱姆 明、暗视野显微镜 BM-14DF BM-14DF
暗场法:观察线状颗粒、不染色活体标本轮廓像可选配CMOS成像系统或9.7吋平板电脑
03-30
彼爱姆 彼爱姆 超高倍视频显微镜 XSP-BM-2MC XSP-BM-2MC
万倍视频放大装置,相衬装置。电脑自购
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