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高速精密切割机 IsoMet High Speed Pro
高速精密切割机 IsoMet High Speed Pro
优势直观用户界面简单的触屏设计，快速修改切割参数采用交互式图标，形象表示机器参数重复进行一致性切割的方法可以在主屏幕上加载和保存高度…
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高速精密切割机 Isomet High Speed
高速精密切割机 Isomet High Speed
产品优势直观用户界面简单的触屏设计，快速修改切割参数采用交互式图标，形象表示机器参数高度可重复的切割结果该切割机可以自动进行精密切割…
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低速精密切割机 IsoMet LS
低速精密切割机 IsoMet LS
IsoMet低速精密切割机是美国标乐专为各种材料的低变形切割而设计的低速精密切割机。采用了先进成熟的低变形切割技术，其切口损失率低，可切割出…
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自动测量光谱椭偏仪 SENDURO
自动测量光谱椭偏仪 SENDURO
SENDURO?, 革命性的光谱椭偏仪 优势: ? 高测量速率 ? 全自动样品校准 ? 可测量透明和吸收基底 ? 按键式操作 ? 友好的软件界面 ? …
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光谱椭偏仪 SENPRO
光谱椭偏仪 SENPRO
规格 光谱范围250 nm ... 900 nm测量时间单点测量时间40 μs, 全光谱测量时间20 ms可变入射角度45, 50, 55, 60, 65, 70, 90 deg载物台可调节高度和倾斜度的载物…
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在线式激光椭偏仪 SE401
在线式激光椭偏仪 SE401
商品描述：在线式激光椭偏仪，可以在线测量薄膜厚度。
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多角度激光椭偏仪 SE400adv
多角度激光椭偏仪 SE400adv
多角度激光椭偏仪 SE400advanced使用632.8nm波长HeNe激光器，对测量薄膜厚度，折射率和吸收系数有非常出色的精度。 SE400advanced能够分析单层膜，多层膜和…
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光谱椭偏仪 SE850
光谱椭偏仪 SE850
可测量大尺寸材料、单层与多层膜、界面、超薄膜与厚膜的厚度与光学参数。SE850DUV特别适用于高要求的研发应用，例如测量玻璃上的薄透明膜、有机发…
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光谱椭偏仪 SE800DUV
光谱椭偏仪 SE800DUV
光谱范围: 190 nm - 950 nm SE 800 DUV 针对要求苛刻的应用而设计，如玻璃上的极薄透明膜，平板印刷中的光刻胶材料和减反射膜，透明或吸收基底上的多…
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双波长激光椭偏仪 SE400-12
双波长激光椭偏仪 SE400-12
商品描述：632.8nm和1550nm双波长激光椭偏仪，主要用于激光器件测量。选件与SE400相同。
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大面积固定角度激光椭偏仪 SE400-300
大面积固定角度激光椭偏仪 SE400-300
固定角度，高重复性，12英寸（300mm)大面积激光椭偏仪，尤其适用于大面积上超薄膜（3-5nm）测量
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大面积固定角度光谱椭偏仪 SE800-300
大面积固定角度光谱椭偏仪 SE800-300
固定角度，高重复性，12英寸（300mm)大面积激光椭偏仪,选件同SE800选件。主要用于玻璃上透明薄膜,发光材料和半导体有机物,吸收和透明衬底上多层膜,玻…
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中红外光谱椭偏仪(不带FTIR) SENDIRA-F
中红外光谱椭偏仪(不带FTIR) SENDIRA-F
中红外光谱椭偏仪具有大面积水平样品台，马达驱动可变入射角度，支持样品水平扫描，吹氮气去水蒸气保护红外光学透镜。提供新材料如有机物半导…
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扩展UV/VIS光谱椭偏仪 SE800-E
扩展UV/VIS光谱椭偏仪 SE800-E
主要用于玻璃上透明薄膜,发光材料和半导体有机物,吸收和透明衬底上多层膜,玻璃上防反射膜，微电子应用：SOI/高K/低K.各项异性材料测量。选件请参考…
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在线式光谱椭偏仪 SE801
在线式光谱椭偏仪 SE801
在线式光谱椭偏仪，可以在线测量薄膜厚度
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3D 表面轮廓仪 LV200/LV300
3D 表面轮廓仪 LV200/LV300
LV200和LV300系列可以满足半导体工业对晶圆片精细测量的要求，测量范围可达200mm或300mm。它可以完成粗糙度、体积、纳米尺度下的深度测量，由于采用独…
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NIR光谱椭偏仪 SE805
NIR光谱椭偏仪 SE805
光谱范围: 700 nm - 1700 nm SE 805是近红外光谱椭偏仪，是在近红外波段基于快速干涉调制探测的高性能光谱椭偏仪。SE 805使用步进扫描分析器方式，调…
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组合式椭偏仪 SE500adv
组合式椭偏仪 SE500adv
迄今为止*简单易用的椭偏仪 ?SE 500adv结合椭偏测量和反射测量 ?可消除椭偏测量对透明膜厚度的周期不确定性 ?膜厚测量范围可扩展至25000 nm.&…
03-30
光谱椭偏仪 SE850DUV
光谱椭偏仪 SE850DUV
深紫外主要用于研究超薄膜、表面粗糙度，并可研究温度、应力、张力、掺杂、组份、晶态等对材料禁带宽度的影响；深紫外也可研究AlGaN, AlN等宽禁带…
03-30
中红外光谱椭偏仪 SENDIRA
中红外光谱椭偏仪 SENDIRA
商品描述：中红外光谱椭偏仪具有大面积水平样品台，马达驱动可变入射角度，支持样品水平扫描，吹氮气去水蒸气保护红外光学透镜。提供新材料如…
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