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镜

偏反光显微镜 XPF-660C
偏反光显微镜 XPF-660C
一、仪器的主要用途和特点    XPF-660C反射偏光显微镜,又叫矿相显微镜或岩相显微镜,是地质、矿产、冶金等部门和高等院校相关学科的专业实…
04-14
倒置荧光显微镜 DFM-75C
倒置荧光显微镜 DFM-75C
一、荧光显微镜仪器的主要用途和特点    DFM-75C倒置无穷远荧光显微镜是由倒置显微镜和落射荧光显微镜组成。仪器配有长工作距离平场消色差…
04-14
倒置显微镜 XDS-700c
倒置显微镜 XDS-700c
一、仪器的主要用途和特点    XDS-700系列倒置显微镜集合了优良的无限远显微光学系统与现代高品质显微观察方法,可以轻松实现明视场、相位…
04-14
正置生物显微镜 XSP-14CC
正置生物显微镜 XSP-14CC
XSP-14C正置生物显微镜高效性,灵活性,稳定性是本类生物显微镜针对各种应用领域日常工作而开发的,从日常到科学研究,可广泛用于各种实验室、学…
04-14
显微镜 CX41
显微镜 CX41
项目CX41光学系统UIS2光学系统(无限远校正系统)照明装置内置透射光柯勒照明,6V30W卤素灯 100-120V/220-240Vg 0.85/0.45A 50/60Hz调焦系统载物台垂直运动由…
04-14
大样品台全自动原子力显微镜 5400L
大样品台全自动原子力显微镜 5400L
产品介绍:5400L是日立公司设计的一款装备有自动大样品台、精准闭环扫描器、以及数字化光镜的全功能型高分辨原子力显微镜,同时具有自动更换探针…
04-14
数字V棱镜折射仪 WYV-S
数字V棱镜折射仪 WYV-S
产品描述:折射率测量范围(nD):1.30000~1.70000(液体)折射率测量范围(nD):1.30000~1.95000(固体)波长:706.5nm、656.3nm、589.3nm、546.1nm、486.1nm、435.…
04-14
棱镜折射仪V光学式  WYV
棱镜折射仪V光学式 WYV
【产品特点】利用精确配制浸液法,可求得*小试样的折射率,对保护被测试样是尤为重要的。基于折射定律的原理,所以被测试样折射率不受仪器棱镜…
04-14
高分辨场发射电镜 NB5000
高分辨场发射电镜 NB5000
仪器简介:新型离子和电子双束系统为材料研究提供了无与伦比的纳米分析能力。  日立公司久负盛名的高可靠性和高性能设计在新型双束系统(超…
04-14
分析型热场发射扫描电镜 SU-70
分析型热场发射扫描电镜 SU-70
仪器简介:为了满足在同一台仪器上进行综合分析(需要大探针电流)和超高分辨率观察的需求,日立开发了SU-70。它采用成熟的超高分辨率半内透镜技术…
04-14
高端高性能原子力显微镜扫描探针显微镜  XE-120
高端高性能原子力显微镜扫描探针显微镜 XE-120
技术参数(机械部分)XY扫描器:100μm×100μm(闭环),可选配200μm×200μm(闭环)Z扫描器:12μm (可选配25μm)水平度:100μm线扫描垂直偏差不超过±2nmXY…
04-14
高端近场扫描光学显微镜 XE-NSOM
高端近场扫描光学显微镜 XE-NSOM
XE-NSOM –用于各种光学应用的完备的AFM 系统XE-NSOM是Park Systems专为高级光学研究而精心设计的一款专业产品,该仪器具备近场扫描光学显微镜(Near-field Scan…
04-14
大样品高端原子力显微镜扫描探针显微镜 XE-150
大样品高端原子力显微镜扫描探针显微镜 XE-150
技术参数(机械部分):1.  XY扫描器:100μm×100μm(闭环),可选配200μm×200 μm2.  Z扫描器:12μm (可选配25μm)3.  水平度:50μm线扫描垂直偏差不…
04-14
研究级高端高分辨率原子力显微镜扫描探针显微镜 XE-70
研究级高端高分辨率原子力显微镜扫描探针显微镜 XE-70
技术参数(机械部分):1. XY扫描器:50μm×50μm(闭环),可选配100μm×100 μm(闭环)2. Z扫描器:12μm (可选配25μm)3. 水平度:50μm线扫描垂直偏差不超过1nm…
04-14
旗舰通用型高分辨率高端原子力显微镜扫描探针显微镜 XE-100
旗舰通用型高分辨率高端原子力显微镜扫描探针显微镜 XE-100
技术参数(机械部分):1. XY扫描器:50μm×50μm(闭环),可选配100μm×100 μm(闭环)2. Z扫描器:12μm (可选配25μm)3. 水平度:50μm线扫描垂直偏差不超过1nm…
04-14
高端生物型原子力显微镜 XE-BIO
高端生物型原子力显微镜 XE-BIO
技术参数(机械部分):1. XY扫描器:100μm×100μm(闭环)2. Z扫描器: 25μm3. 水平度:100μm线扫描垂直偏差不超过2nm4. 样品台移动范围:10mm(X/Y),14mm (Z…
04-14
新型高分辨场发射扫描电镜 SU8010
新型高分辨场发射扫描电镜 SU8010
特点:1. 优秀的低加速电压成像能力,1kv分辨率可达1.3nm2. 日立专利的ExB设计,不需喷镀,可以直接观测不导电样品3. Upper探头可选择接受二次电子像或…
04-14
新型高分辨场发射扫描电镜 SU8020
新型高分辨场发射扫描电镜 SU8020
特点:1. 优秀的低加速电压成像能力,1kv分辨率可达1.3nm2. 日立专利的ExB设计,不需喷镀,可以直接观测不导电样品3. Upper探头可选择接受二次电子像或…
04-14
新型超高分辨冷场发射扫描电镜 SU9000
新型超高分辨冷场发射扫描电镜 SU9000
特点:1. 新型电子光学系统设计达到扫描电镜世界*高分辨率:二次电子0.4nm(30KV),STEM 0.34nm(30KV)。2. Hitachi专利设计的E×B系统,可以自由控制SE和BSE…
04-14
扫描电子显微镜  S-3400N
扫描电子显微镜 S-3400N
S-3400N具有*新开发的电子光学系统,强大的自动化功能,操作更简易。特点:1. S-3400N具有强大的自动功能,包括自动灯丝饱和、4偏压、自动枪对中、自动…
04-14
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