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正置明暗场金相显微镜 LW300LMDT--DIC
用途：微分干涉相衬显微镜适用于对多种物体的显微观察。配置落射DIC观察系统与透射照明系统、无限远长距平场消色差物镜、大视野目镜和偏光观察…
03-30
正置金相显微镜 LW200-3JT
用途：LW200系列正置金相显微镜是适用于对不透明物体的显微观察。本仪器配有落射照明器、平场消色差物镜、大视野目镜、图像清晰、衬度好、同时配…
03-30
单目倒置金相显微镜 LWD200-4XI
用途：本仪器是用户鉴别和分析各种金属和合金的组织结构。可广泛地应用在工厂或实验室进行铸件质量的鉴定。原材料的检验或对材料处理后金相组…
03-30
三目正置金相显微镜 LW200-2JT
用途：正置金相显微镜是适用于对不透明物体的显微观察。本仪器配有落射照明器、平场消色差物镜、大视野目镜、图像清晰、衬度好、同时配有偏光…
03-30
倒置金相显微镜 LWD200-4T
用途：倒置金相显微镜，适用于厂矿企业、高等院校及科研等机构作材料的表面组织结构观察和机械状态检测之用。也是金相、岩相、矿相、晶体等方…
03-30
双目倒置金相显微镜 LWD200-4XB
用途：本仪器是用户鉴别和分析各种金属和合金的组织结构。可广泛地应用在工厂或实验室进行铸件质量的鉴定。原材料的检验或对材料处理后金相组…
03-30
倒置金相显微镜 LWD200-4XC
用途：倒置金相显微镜，适用于厂矿企业、高等院校及科研等机构作材料的表面组织结构观察和机械状态检测之用。也是金相、岩相、矿相、晶体等方…
03-30
正置芯片检查显微镜 LW300MT
用途：专为微电子行业量身定做，适用于硅、砷化镓、磷化铟等基片6″8″盘的生产工艺检查；可以方便的快移和精确的位移 检查；也可…
03-30
工业检测显微镜 LWM300LJT
用途：工业检测显微镜适用于对工件表面的组织结构与几何形态进行显微观察。采用优良的无限远光学系统与模块化功能设计理念，可以方便升级系统…
03-30
无穷远明暗场金相显微镜 LW300LMDT
用途：显微镜可进行明视场、暗视场、简易偏光观察。是半导体检验、电路封装、电路基板、材料等行业理想的仪器。本仪器配置大视野目镜和长工作…
03-30
正置明暗场金相显微镜 LW400LMDT
用途：微分干涉相衬显微镜适用于对多种物体的显微观察。配置落射DIC观察系统与透射照明系统、无限远长距平场消色差物镜、大视野目镜和偏光观察…
03-30
透反射金相显微镜 LW300LJT
用途：透反射金相显微镜适用于对不透明物体或透明物体的显微观察。本仪器配置落射与透射照明系统、无限远长距平场消色差物镜(无盖玻片)、大视野…
03-30
数码倒置金相显微镜 LWD300LCS
用途：LWD300系列数码倒置金相显微镜采用优良的无限远光学系统，可提供卓越的光学性能。紧凑稳定的高刚性主体，充分体现了显微镜操作的防震要求…
03-30
Z轴测量显微镜 CW2010—Z
用途：适用于硅片、IC、LCD、TFT、PCB、MEMS激光加工、晶片测试、半导体材料、线束加工蚀刻、液晶电池盖、导线框架等产品的检查观察.也适用于经过磨…
03-30
多功能微分干涉显微镜 CW2010-DIC
用途:DIC95/45分属于无穷远和有限远两个光学系统，除选配的国产物镜外，其他的功能质量都是上乘之作，光源可选LED和光纤冷光源，主要是为了适合不…
03-30
表面缺陷扫描显微镜 CW300S-70
用途：零部件扫描、快速检测、快速成型、清洁度检测、颗粒度分析、医用针制造，电缆绝缘层检测、科学研究、计算机视觉、先进制造、数字文物、…
03-30
多功能测量显微镜 JL107JA
用途：多功能测量显微镜采用透、反射的方式对工件长度和角度作精密测量。特别适用于电子行业,超机械精加工。用来测量电子线 路的宽度和精细…
03-30
便携式金相显微镜 M-10D
【仪器用途】M-10D便携式金相显微镜（也称手持金相显微镜）是可方便的用于现场材料无法制作试样时需鉴别的各种金属与合金的组织结构进行现场鉴定…
03-30
便携式现场金相显微镜 M-20D型
M-20D现场金相显微镜是用于现场多种大型工件的金相检查、失效分析的显微镜。它不用切割取样，直接在工件上打磨、抛光，从而保证工件的完整性。现…
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变倍显微镜及几何测量系统 MIDS 3002
【系统特点】1、该变倍显微镜变倍方便，工作距离长，可靠性高；2、放大倍率倍数，实现分档调节；3、放大倍率倍数范围宽，变倍显微镜可同时实现…
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