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锥形量热仪 SZL-1
锥形量热仪 SZL-1
本测试仪满足国标GB/T16172-2007 / ISO5660-1:2002中所规定的技术指标和要求,适用于对建筑材料热释放速率的测试。SZL-1锥形量热仪    性能特点如下:1、…
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超声波测厚仪 HT-201
超声波测厚仪 HT-201
HT 系列超声波测厚仪是在采用国内先进技术的基础上研制的一种高精度、低功耗、低下限的智能测量仪器。与其它品牌的仪器相比,其稳定性更加优越。…
03-30
超声波测厚仪 HT-202
超声波测厚仪 HT-202
HT 系列超声波测厚仪是在采用国内先进技术的基础上研制的一种高精度、低功耗、低下限的智能测量仪器。与其它品牌的仪器相比,其稳定性更加优越。…
03-30
超声波测厚仪 HT-202J
超声波测厚仪 HT-202J
HT 系列超声波测厚仪是在采用国内先进技术的基础上研制的一种高精度、低功耗、低下限的智能测量仪器。与其它品牌的仪器相比,其稳定性更加优越。…
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超声波测厚仪 PXUT-10
超声波测厚仪 PXUT-10
PXUT-10超声波测厚仪,运用超声波测量原理,采用先进的电子集成技术,造型小巧、功能齐全,可用于多种材料厚度的测量。该仪器可对板材和工件作精确测量…
03-30
测厚仪 TM-8810
测厚仪 TM-8810
性能和特点:应用:石油、造船、电站、机器制造业及压力容器、化工设备锅炉、储油罐等厚度测量和腐蚀测量。型号:TM-8810测量范围(公/英制):1.5～200mm &nb…
03-30
测厚仪 TM-8811
测厚仪 TM-8811
性能和特点:应用:石油、造船、电站、机器制造业及压力容器、化工设备锅炉、储油罐等厚度测量和腐蚀测量。型号:TM-8811 测量范围(公/英制):1.5-200mm…
03-30
超声波测厚仪 UM-1
超声波测厚仪 UM-1
性能和特点:我厂开发的生产的UM-1超声波测厚仪根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的,当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时,脉…
03-30
超声波测仪 UM-1D
超声波测仪 UM-1D
性能和特点:我厂开发生产的UM-1D超声波测仪具有小巧轻便,操作简单,功能卓越。两种工作模式,其中涂层模式即测量穿过涂层的操作模式,在被测物表面有…
03-30
超声波测厚仪 UM-2
超声波测厚仪 UM-2
性能和特点:我厂开发的生产的UM-2超声波测厚仪根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的,当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时,脉…
03-30
超声波测仪 UM-2D
超声波测仪 UM-2D
性能和特点:我厂开发生产的UM-2D超声波测仪具有小巧轻便,操作简单,功能卓越。两种工作模式,其中涂层模式即测量穿过涂层的操作模式,在被测物表面有…
03-30
高精超声波测厚仪 UM-3
高精超声波测厚仪 UM-3
性能和特点:我厂开发的生产的UM-3高精超声波测厚仪根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的,当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面…
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薄膜测厚仪 SGC-10
薄膜测厚仪 SGC-10
性能和特点:适用于介质,半导体,薄膜滤波器和液晶等薄膜和涂层的厚度测量。该薄膜测厚仪,是我公司与美国new-span公司合作研制的,采用new-span公司先进…
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自动椭圆偏振测厚仪 SGC-2
自动椭圆偏振测厚仪 SGC-2
性能和特点:1、光源:采用波长为632.8nm的氦氖激光光源①其特点是:光强大、光谱纯、波长稳定性好。2、接收器:采用光电倍增管⑤,把光讯号变为电讯号,…
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薄膜测厚仪 ST2000-DLXn
薄膜测厚仪 ST2000-DLXn
性能和特点:采用的是光学技术方法。在薄膜的表面利用反射光和在下部的界面反射的光之间的干涉现象或是利用光的相位差来决定薄膜的性质。这样我…
03-30
涂层测厚仪 D-MP0
涂层测厚仪 D-MP0
性能特点如下:D-MP0型涂层测厚仪符合国家标准GB/T4956和GB/T4957,可用于生产检验、验收检验及质量监督检验。采用双功能内置式探头,自动识别铁基或非铁…
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磁性测厚仪 QCC-A
磁性测厚仪 QCC-A
执行标准: GB/T1764-89 、 GB/T13452.2-92 、 ISO2808-74 本仪器适于测定磁性材料表面上非磁性涂镀层的厚度。专用于铁磁性材料表面上非磁性涂镀层厚度的测…
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数显式磁性测厚仪 QUC-200
数显式磁性测厚仪 QUC-200
执行标准:GB/T1764-89、GB/T13452.2-92、ISO2808-74,本仪器适于测定磁性材料表面上非磁性涂镀层的厚度。专用于铁磁性材料表面非磁性涂镀层厚度的测定。主要…
03-30
测厚仪 byko-test4200/4500
测厚仪 byko-test4200/4500
byko-test4200/4500测厚仪可以测量多种产品,在磁性和非磁性底材转换的过程中不需要更换探头或重新校标,大屏 幕LCD显示,可保留*近一次测量数值10秒,使用极…
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电磁膜厚计 LE-200J
电磁膜厚计 LE-200J
●规格       AN-200WB测量方式:    近红外透射式(720～1100nm)测量对象:    小麦、大麦、大豆(选择) 测量成分:    水分,蛋…
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