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日本三丰 圆度仪 RA-2100AS RA-2100AS
性能和特点:RA-2200系列提供高精度、高速度、高性能的圆度/圆柱度测量。测量项目:圆度、圆柱度、圆锥度、平面度、直线度、平行度、跳动,同心度、同…
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苏磁 交直流荧光磁粉探伤机 CEW-2000 CEW-2000
一、概述:CEW-2000型交直流荧光磁粉探伤机系机电组合式半自动磁粉探伤设备,由电源控制系统、夹持磁化装置、磁悬液系统等几大部分组成,适用于以…
03-30
苏磁 微机控制磁粉探伤机 CDW-4000A CDW-4000A
一、概述:CDW-4000A微机控制磁粉探伤机系机电分立式半自动磁粉探伤设备,由电源控制柜、夹持磁化装置、磁悬液系统等几大部分组成,适用于以湿式…
03-30
日本三丰 圆度仪 RA-2100DS RA-2100DS
性能和特点:RA-2200系列提供高精度、高速度、高性能的圆度/圆柱度测量。测量项目:圆度、圆柱度、圆锥度、平面度、直线度、平行度、跳动,同心度、同…
03-30
苏磁 滚柱磁粉探伤机 GZ-600 GZ-600
一、概述:GZ-600滚柱磁粉探伤机系机电组合式半自动磁粉探伤设备,由电源控制系统、夹持磁化装置、磁悬液喷洒机构,退磁机构等几大部分组成,适…
03-30
日本三丰 圆度仪 RA-2100AH RA-2100AH
性能和特点:RA-2200系列提供高精度、高速度、高性能的圆度/圆柱度测量。测量项目:圆度、圆柱度、圆锥度、平面度、直线度、平行度、跳动,同心度、同…
03-30
苏磁 气瓶专用磁粉探伤机 CJW-6000 CJW-6000
概述:CJW-6000型气瓶专用磁粉探伤机系机电组合型半自动荧光磁粉探伤设备,由电源控制系统、夹持磁化装置、磁悬液系统荧光系统等几大部分组成,适…
03-30
日本三丰 圆度仪 RA-2100DH RA-2100DH
性能和特点:RA-2200系列提供高精度、高速度、高性能的圆度/圆柱度测量。测量项目:圆度、圆柱度、圆锥度、平面度、直线度、平行度、跳动,同心度、同…
03-30
苏磁 弹簧荧光磁粉探伤机 CDG CDG
概述:CDG弹簧荧光磁粉探伤机系机电组合型半自动荧光磁粉探伤设备,由电源控制系统、夹持磁化装置、磁悬液系统荧光系统等几大部分组成,适用于…
03-30
苏磁 半轴荧光磁粉探伤机 CDG-4000 CDG-4000
概述:CDG-4000型半轴荧光磁粉探伤机系机电半组合式磁粉探伤设备,由电源控制柜、夹持磁化装置、磁悬液系统等几大部分组成,适用于以湿式磁粉法检…
03-30
日本三丰 圆度仪 RA-1400 RA-1400
性能和特点:圆度测量样是一种圆度/圆柱度测量系统,含有*新技术,配备一个DAT(数字调节台)机构,这种装置具有自动测量功能和圆弧测量功能,工件的定心…
03-30
苏磁 阀体荧光磁粉探伤机 CDG-4000 CDG-4000
CDG-4000荧光磁粉探伤检测机系机电半组合式半自动荧光磁粉探伤设备,由电源控制系统、夹持磁化装置、荧光观察检查装置、退磁装置等几大部分组成,…
03-30
日本三丰 圆度仪 RA-1500 RA-1500
性能和特点:圆度测量样是一种圆度/圆柱度测量系统,含有*新技术,配备一个DAT(数字调节台)机构,这种装置具有自动测量功能和圆弧测量功能,工件的定心…
03-30
苏磁 三相全波磁粉探伤机 CDG-2000E CDG-2000E
CDG系列三相全波磁粉探伤机: 吸收国内外磁粉探伤机优点,选用新材料,采用新工艺,数字控制,功能齐全;具有探伤速度快、检测灵敏度高、抗…
03-30
苏磁 三相全波磁粉探伤机 CDG-4000E CDG-4000E
CDG系列三相全波磁粉探伤机:吸收国内外磁粉探伤机优点,选用新材料,采用新工艺,数字控制,功能齐全;具有探伤速度快、检测灵敏度高、抗干扰…
03-30
日本三丰 圆柱仪 RA-120 RA-120
性能和特点:圆度仪属于小型,高性价比测量仪,操作简便,使与车间环境对测量工件的集合形状。可满足实验室圆度测量仪所需的强大资料分析能力,探测器…
03-30
日本三丰 圆柱仪 RA-120P RA-120P
性能和特点:圆度仪属于小型,高性价比测量仪,操作简便,使与车间环境对测量工件的集合形状。可满足实验室圆度测量仪所需的强大资料分析能力,探测器…
03-30
布鲁克 台阶仪 DektakXT DektakXT
性能特点如下:布鲁克 DektakXT 台阶仪(探针式表面轮廓仪)是一项创新性的设计,可以提供更高的重复性和分辨率,测量重复性可以达到5?。台阶仪这项性能的…
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苏磁 三相全波磁粉探伤机 CDG-6000E CDG-6000E
CDG系列三相全波磁粉探伤机:吸收国内外磁粉探伤机优点,选用新材料,采用新工艺,数字控制,功能齐全;具有探伤速度快、检测灵敏度高、抗干扰…
03-30
美国布鲁克Bruker 台阶仪 Dektak -XT 10th Dektak -XT 10th
性能和特点:探针系统的评价体系受三个因素影响:能否重复测量,数据采集和分析速度快慢,操作的难易程度。这些因素直接影响了数据的质量和操作效率…
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