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数字熔点仪 WRS-1B
数字熔点仪的性能和特点:数字熔点仪WRS-1B光电检测、数字显示,可向电脑传输数据,显示熔化曲线。数字熔点仪的主要技术参数:熔点测量范围:室温一300℃…
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数字熔点仪 WRS-2A
数字熔点仪的性能和特点:数字熔点仪WRS-2A测定晶体物质的熔点以确定其纯度。主要用于药物、染料、香料等晶体有机化合物熔点之测定,光电检测,超大…
03-30
目视熔点仪 WRR
性能和特点:测定晶体物资的熔点以确定其纯度。主要用于药物、染料、香料等晶体有机化合物熔点之测定。测量方法完全符合药典标准。可同时测三根…
03-30
微机熔点仪 WRS-2
性能和特点:测定晶体物质的熔点以确定其纯度。主要用于药物、染料、香料等晶体有机化合物熔点之测定。光电检测,数字键盘输入,大屏幕背光液晶显…
03-30
数字熔点仪 WRS-1B
性能和特点:测定晶体物质的熔点以确定其纯度。主要用于药物、染料、香料等晶体有机化合物熔点之测定。光电检测,数字键盘输入,大屏幕背光液晶显…
03-30
数字熔点仪 WRS-2A
性能和特点:测定晶体物质的熔点以确定其纯度。主要用于药物、染料、香料等晶体有机化合物熔点之测定。光电检测,数字键盘输入,大屏幕背光液晶显…
03-30
目视熔点仪 WRR
性能和特点:测定晶体物资的熔点以确定其纯度。主要用于药物、染料、香料等晶体有机化合物熔点之测定。测量方法完全符合药典标准。可同时测三根…
03-30
数字熔点仪 WRS-2
性能和特点:测定晶体物质的熔点以确定其纯度。主要用于药物、染料、香料等晶体有机化合物熔点之测定。光电检测,数字键盘输入,大屏幕背光液晶显…
03-30
数字熔点仪 WRS-1B
性能和特点:光电检测,数字显示,配有RS232接口,可向PC机传送数据,显示融化曲线。技术参数:熔点测量范围:室温至300℃ 温度显示*小值:0.1℃ 线形升…
03-30
数字熔点仪 WRS-2A
性能和特点:测定晶体物质的熔点以确定其纯度。主要用于药物、染料、香料等晶体有机化合物熔点之测定。光电检测,数字键盘输入,大屏幕背光液晶显…
03-30
热膨胀仪 DIL402C
性能和特点:当代新型陶瓷、金属粉末与复合材料领域的不断发展,要求精确地掌握材料的热膨胀和烧结特性。对于各类反应与相转变的研究,经常要求在…
03-30
静态热机械分析仪(热膨胀仪) TMA/SS 7000
性能和特点:TMA技术用于测量固体(包括园片、薄膜、粒状、纤维)液体和凝胶在力作用下的形变性能常用的负荷方式有压缩、针入、拉伸、弯曲等探头由…
03-30
冲击试样缺口投影仪 CST-50
一、产品说明:CST-50夏比投影仪是我公司根据日前国内广大用户的实际需求和GB/T229-2007《金属夏比缺口冲击试验方法》中对冲击试样缺口的要求而设计、…
03-30
仪器化冲击试验机 JBW-300H
一、描述该机按照ISO14556:2000《Steet-charpy V-charpy V-notch pendulum impact test-Instvumented test method》;GB/T19748-2005《金属夏比V型缺口落锤冲击试验机仪器化试验方法…
03-30
仪器化冲击试验机 JBW-450H
一、描述该机按照ISO14556:2000《Steet-charpy V-charpy V-notch pendulum impact test-Instvumented test method》;GB/T19748-2005《金属夏比V型缺口落锤冲击试验机仪器化试验方法…
03-30
仪器化冲击试验机 JBW-750H
一、描述该机按照ISO14556:2000《Steet-charpy V-charpy V-notch pendulum impact test-Instvumented test method》;GB/T19748-2005《金属夏比V型缺口落锤冲击试验机仪器化试验方法…
03-30
比表面及孔径分析仪 JW-BK112
性能和特点:专业研发比表面,比表面积,比表面积仪,比表面测定仪,比表面积分析仪,孔径分析仪,孔径分布,孔隙率测定仪,孔隙率分析仪,孔隙度分析仪经国…
03-30
全自动独立多站比表面和孔隙度分析仪 QUDRASORB SI
性能和特点:QUADRASORB SI 比表面和孔隙度分析仪可同时使用的独立的分析站,用于任意BET 比表面和孔径测量的分析组合。其灵活性使其前一个分析完成后,…
03-30
氮吸附全自动比表面积测定仪
精微高博比表面仪具有动态直接对比法比表面快速测定,设计精巧,使用方便,适合生产在线检测。比表面测定仪功能 直接对比法快速测定比表面比表…
03-30
比表面测定仪
比表面测定仪技术参数比表面测定仪测定范围: ≥0.01m2/g,无规定上限比表面测定仪样品数量: 4个(1个标准样,3个被测样)比表面测定仪测试效率: 平均每个…
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