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糖盐二合一折射仪 DR902
DR902数显二合一折射仪，用于快速测定含糖溶液以及其它非糖溶液的浓度，还可测量盐溶液浓度，广泛应用于制糖、食品、饮料等工业部门及农业生产和…
03-30
自动测量光谱椭偏仪 SENDURO
SENDURO?, 革命性的光谱椭偏仪 优势: ? 高测量速率 ? 全自动样品校准 ? 可测量透明和吸收基底 ? 按键式操作 ? 友好的软件界面 ? …
03-30
光谱椭偏仪 SENPRO
规格 光谱范围250 nm ... 900 nm测量时间单点测量时间40 μs, 全光谱测量时间20 ms可变入射角度45, 50, 55, 60, 65, 70, 90 deg载物台可调节高度和倾斜度的载物…
03-30
在线式激光椭偏仪 SE401
商品描述：在线式激光椭偏仪，可以在线测量薄膜厚度。
03-30
多角度激光椭偏仪 SE400adv
多角度激光椭偏仪 SE400advanced使用632.8nm波长HeNe激光器，对测量薄膜厚度，折射率和吸收系数有非常出色的精度。 SE400advanced能够分析单层膜，多层膜和…
03-30
光谱椭偏仪 SE850
可测量大尺寸材料、单层与多层膜、界面、超薄膜与厚膜的厚度与光学参数。SE850DUV特别适用于高要求的研发应用，例如测量玻璃上的薄透明膜、有机发…
03-30
光谱椭偏仪 SE800DUV
光谱范围: 190 nm - 950 nm SE 800 DUV 针对要求苛刻的应用而设计，如玻璃上的极薄透明膜，平板印刷中的光刻胶材料和减反射膜，透明或吸收基底上的多…
03-30
双波长激光椭偏仪 SE400-12
商品描述：632.8nm和1550nm双波长激光椭偏仪，主要用于激光器件测量。选件与SE400相同。
03-30
大面积固定角度激光椭偏仪 SE400-300
固定角度，高重复性，12英寸（300mm)大面积激光椭偏仪，尤其适用于大面积上超薄膜（3-5nm）测量
03-30
大面积固定角度光谱椭偏仪 SE800-300
固定角度，高重复性，12英寸（300mm)大面积激光椭偏仪,选件同SE800选件。主要用于玻璃上透明薄膜,发光材料和半导体有机物,吸收和透明衬底上多层膜,玻…
03-30
中红外光谱椭偏仪(不带FTIR) SENDIRA-F
中红外光谱椭偏仪具有大面积水平样品台，马达驱动可变入射角度，支持样品水平扫描，吹氮气去水蒸气保护红外光学透镜。提供新材料如有机物半导…
03-30
扩展UV/VIS光谱椭偏仪 SE800-E
主要用于玻璃上透明薄膜,发光材料和半导体有机物,吸收和透明衬底上多层膜,玻璃上防反射膜，微电子应用：SOI/高K/低K.各项异性材料测量。选件请参考…
03-30
在线式光谱椭偏仪 SE801
在线式光谱椭偏仪，可以在线测量薄膜厚度
03-30
3D 表面轮廓仪 LV200/LV300
LV200和LV300系列可以满足半导体工业对晶圆片精细测量的要求，测量范围可达200mm或300mm。它可以完成粗糙度、体积、纳米尺度下的深度测量，由于采用独…
03-30
NIR光谱椭偏仪 SE805
光谱范围: 700 nm - 1700 nm SE 805是近红外光谱椭偏仪，是在近红外波段基于快速干涉调制探测的高性能光谱椭偏仪。SE 805使用步进扫描分析器方式，调…
03-30
组合式椭偏仪 SE500adv
迄今为止*简单易用的椭偏仪 ?SE 500adv结合椭偏测量和反射测量 ?可消除椭偏测量对透明膜厚度的周期不确定性 ?膜厚测量范围可扩展至25000 nm.&…
03-30
光谱椭偏仪 SE850DUV
深紫外主要用于研究超薄膜、表面粗糙度，并可研究温度、应力、张力、掺杂、组份、晶态等对材料禁带宽度的影响；深紫外也可研究AlGaN, AlN等宽禁带…
03-30
中红外光谱椭偏仪 SENDIRA
商品描述：中红外光谱椭偏仪具有大面积水平样品台，马达驱动可变入射角度，支持样品水平扫描，吹氮气去水蒸气保护红外光学透镜。提供新材料如…
03-30
全自动2.5D影像测量仪 KVM-5040
全自动影像测量仪，基于机器视觉的自动边缘提取、自动理匹、自动对焦、测量合成、影像合成等人工智能技术，具有点哪走哪自动测量、CNC走位自动…
03-30
万濠全自动影像测量仪 VMS-2515H
CNC型影像测量仪器。其结构精美观大方，操纵简便，结合本公司自主研发的QIM5008自动测量软件可实现高效率的批量测量。该系列产品具有以上特点：●&…
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